| Εικόνα | KEY Part # / Κατασκευαστής | Περιγραφή / PDF | Ποσότητα / RFQ |
|---|---|---|---|
 |
Texas Instruments |
IC REGISTERED BUFF 26BIT 96LFBGA. |
1740τεμ |
 |
ON Semiconductor |
IC ARITHMETIC LOGIC 4BIT 20-DIP. |
1732τεμ |
 |
ON Semiconductor |
IC INVERTER COMP PR DUAL 14-DIP. |
1723τεμ |
 |
Texas Instruments |
IC 17-BIT TTL/BTL XCVR 100-HLQFP. |
1716τεμ |
 |
ON Semiconductor |
IC DRIVER RELAY DUAL 30V 8-DIP. |
10110τεμ |
 |
Texas Instruments |
IC REGSTR BUFFER 28-56BIT 176BGA. |
10197τεμ |
 |
Texas Instruments |
IC 25BIT CONFIG REG BUFF 96-BGA. |
10197τεμ |
|
Texas Instruments |
IC CONFIG REG BUFF 28BIT 176-BGA. |
10197τεμ |
 |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC. |
10398τεμ |
 |
Texas Instruments |
IC 10B ADDRSBL SCAN PORT 24TSSOP. |
11051τεμ |
 |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP. |
11193τεμ |
 |
ON Semiconductor |
IC DRVR ECL QUAD 2.5V/3.3V 24QFN. |
11203τεμ |
 |
ON Semiconductor |
IC DRV/RCV ECL QUAD DIFF 20TSSOP. |
11203τεμ |
 |
Texas Instruments |
IC REGISTERED BUFFER 160-TFBGA. |
11216τεμ |
|
Texas Instruments |
IC 25BIT CONFIG REG BUFF 96-BGA. |
11216τεμ |
|
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC. |
11260τεμ |
|
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC. |
11260τεμ |
|
Texas Instruments |
IC EMBEDDED TEST BUS CTRL 24SOIC. |
12402τεμ |
 |
Texas Instruments |
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP. |
12789τεμ |
|
Texas Instruments |
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP. |
12880τεμ |
Σελίδες ταξινόμησης
- Λογική - Ειδικότητα Λογική - Σελίδα48
- Λογική - Ειδικότητα Λογική - Σελίδα49
- Λογική - Ειδικότητα Λογική - Σελίδα50
- Λογική - Ειδικότητα Λογική - Σελίδα51
- Λογική - Ειδικότητα Λογική - Σελίδα52
- Λογική - Ειδικότητα Λογική - Σελίδα53
- Λογική - Ειδικότητα Λογική - Σελίδα54
- Λογική - Ειδικότητα Λογική - Σελίδα55
- Λογική - Ειδικότητα Λογική - Σελίδα56
- Λογική - Ειδικότητα Λογική - Σελίδα57
success